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微納CT是一種超精密的分析檢測(cè)儀器，原理如下

微納CT是一種超精密的分析檢測(cè)儀器，即采用高強(qiáng)度微納焦點(diǎn)X射線源、超分辨微納平板探測(cè)器、精密機(jī)械結(jié)構(gòu)、高速掃描及精確同步控制系統(tǒng)以及快速圖像重建與應(yīng)用軟件，技術(shù)涉及面廣，系統(tǒng)復(fù)雜。微納CT基本原理是依據(jù)輻射在被檢測(cè)物體中的減弱和吸收特性。同物質(zhì)對(duì)輻射的吸收本領(lǐng)與物質(zhì)性質(zhì)有關(guān)。所以，利用放射性核素或其他輻射源發(fā)射出的、具有一定能量和強(qiáng)度的X射線或γ射線，在被檢測(cè)物體中的衰減規(guī)律及分布情況，就有可能由探測(cè)器陳列獲得物體內(nèi)部的詳細(xì)信息，后用計(jì)算機(jī)信息處理和圖像重建技術(shù)，以圖像形式顯...

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工業(yè)CT為什么能夠應(yīng)用于市場(chǎng)？

工業(yè)CT即工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描成像，它能在對(duì)檢測(cè)物體無(wú)損傷條件下，以二維斷層圖像或三維立體圖像的形式，清晰、準(zhǔn)確、直觀地展示被檢測(cè)物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、組成、材質(zhì)及缺損狀況。工業(yè)CT的優(yōu)勢(shì)接觸式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)、非接觸式激光和結(jié)構(gòu)光測(cè)量技術(shù)在記錄形狀和尺寸方面都有自己的優(yōu)勢(shì)，但即使是它們也無(wú)法提供CT掃描儀所能提供的內(nèi)部和多材料裝配細(xì)節(jié)。CT掃描服務(wù)將生成完整的外部和內(nèi)部幾何結(jié)構(gòu)的3D數(shù)據(jù)集，所有這些都不需要對(duì)內(nèi)部組件進(jìn)行視線或視覺(jué)訪問(wèn)。這也許是工業(yè)CT掃描的*大好處，它可以用來(lái)提供詳細(xì)...

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使用數(shù)字X射線進(jìn)行檢測(cè)

術(shù)語(yǔ)“高動(dòng)態(tài)放射檢查”一方面是指與深度分辨率有關(guān)的檢測(cè)器高度力學(xué)，另一方面是指圖像刷新速度有關(guān)存在的高度力學(xué)。射線檢查或動(dòng)態(tài)檢測(cè)僅在高圖像刷新率時(shí)有意義。高動(dòng)態(tài)放射檢查(HDR)的先決條件是低噪音和快速檢測(cè)儀顯示高度動(dòng)態(tài)性，其結(jié)合了探測(cè)器優(yōu)化校準(zhǔn)的軟件和快速濾波算法。通過(guò)多增益校準(zhǔn)和非線性探測(cè)器像素的校正可防止接收相同劑量時(shí)，甚至在像素不同灰度級(jí)別的高劑量出現(xiàn)結(jié)構(gòu)噪音。無(wú)論是復(fù)雜的像素校正和類似于帶通濾波器的算法都需要軟件代碼內(nèi)的*效轉(zhuǎn)換，其在每秒可使用30張無(wú)沖擊圖像。可在...

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X射線檢測(cè)為各類鑄件提供質(zhì)量保證

各種鑄造技術(shù)會(huì)在各類材料上產(chǎn)生典型的鑄造缺陷，如鐵、鋁、鎂或鋅。其包括孔隙、氣孔和氣泡形成、熱裂紋、尺寸變化和夾雜物。依科視朗X射線系統(tǒng)可通過(guò)Y.HDR檢測(cè)確定快速檢測(cè)出更大面積的缺陷?？商暨x出早期生產(chǎn)過(guò)程中偏離鑄造要求的鑄件，并從發(fā)現(xiàn)的缺陷類型中判斷鑄件質(zhì)量，然后采取適當(dāng)措施提高產(chǎn)量。計(jì)算機(jī)斷層掃描能提供重要的補(bǔ)充資料。甚至在復(fù)雜箱體部件內(nèi)也可以通過(guò)計(jì)算機(jī)斷層掃描準(zhǔn)確定內(nèi)部結(jié)構(gòu)和壁厚。諸如此類的信息是*的，尤其是在原型設(shè)計(jì)的驗(yàn)證過(guò)程中。零件的安全性能很重要，按照鑄造工藝確定...

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計(jì)算機(jī)斷層掃描（CT）

CT的全稱是ComputedTomography，即計(jì)算機(jī)斷層掃描，通過(guò)X射線源、樣品和探測(cè)器三者之間的相對(duì)運(yùn)動(dòng)，采集一系列不同角度的樣品透視投影圖，再通過(guò)三維重建算法可獲得樣品內(nèi)部的一系列虛擬切片圖，完成三維結(jié)構(gòu)重建。CT技術(shù)的核心是由投影數(shù)據(jù)重建圖像的理論計(jì)算機(jī)斷層掃描（CT）提供了檢驗(yàn)項(xiàng)目的三維視圖，可準(zhǔn)確分析孔徑和壁厚、測(cè)定幾何公差、比較實(shí)際與目標(biāo)的情況或提取的STL數(shù)據(jù)。因?yàn)?D檢測(cè)項(xiàng)目的描述，CT可能比放射透視更能準(zhǔn)確分析檢測(cè)項(xiàng)目。除了提供更準(zhǔn)確的檢測(cè)評(píng)估，計(jì)算機(jī)...

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